Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин

ОСТ 11 050.068-83 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин

  • Статус:

    Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS

  • Текст документа:

    Отсутствует

  • Изображение документа:

    Присутствует

  • Утвержден:

    Минэлектронпром СССР; МЭП СССР, 01.01.1983

  • Дополнительные сведения:

    ОБРАТИТЕ ВНИМАНИЕ:Документ из неофициального источника. Дополнительную информацию см. "Примечания".

Документ входит в следующие классификаторы и разделы:
Поиск по документам

Время переходить
на платформу nanoCAD!

Autodesk приостановил свою деятельность на территории РФ

Свяжитесь с нами

Форма обратной связи

Вы можете получить этот (и еще 150 000) документ в рамках бесплатной 3х-дневной опытной эксплуатации NormaCS.

CAPTCHA

Заполните анкету и мы предоставим Вам информацию в течение рабочего дня (с 9 до 18 по московскому времени).

Получить документ Купить NormaCS

Документ "ОСТ 11 050.068-83 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин" находится в системе НТД NormaCS

Вы можете получить этот (и еще 150 000) документ в рамках бесплатной 3х-дневной опытной эксплуатации NormaCS.

CAPTCHA

Заполните анкету и мы предоставим Вам информацию в течение рабочего дня (с 9 до 18 по московскому времени).

Если Вы уже воспользовались услугой бесплатной опытной эксплуатации и определились с выбором разделов — просто нажмите кнопку или свяжитесь с нами по телефону 8(831) 2-100-100

Купить NormaCS